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SGW® X-4A显微熔点仪
 
   
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上海物光SGW® X-4A显微熔点仪

范围:室温~320℃,最小读数单位:0.1℃, 重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃)

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SGW® X-4A显微熔点仪上海物光产品介绍:

产品特点:
 
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
主要技术参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
                       ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)
温度显示最小值:0.1℃

熔点观察方式 单目显微镜

光学放大倍数 40×

 

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