彼爱姆15J测量显微镜

上海上光彼爱姆15J测量显微镜

一、上海上光彼爱姆15J测量显微镜用途

15J测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下：

1.直角坐标中测定长度，例如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。

2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3.用作观察，以比较法检查工作表面粗糙度，鉴定冶金工业的矿石标本，检定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。

二、上海上光彼爱姆15J测量显微镜技术规格

1.光学系统规格

2.测量工作台读数装置主要规格

X轴移动测量范围：50mm

Y轴移动测量范围：13mm

测微器分度值：0.01mm

测量台转动范围：不限

测量台刻度盘分度范围：0°～360°

测量台刻度盘之分度值：1°

测量台刻度盘游读数示值：6′

3.测量精度：

仪器示值误差：±(4+L/15 )um

仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差。

注：测量地点温度变化(20±3)℃

4.仪器之主要尺寸：

测量台与物镜间之最大距离：80mm

测量工作台直径：120mm

三、仪器成套性：

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