上海棱光紫外可见分光光度计755S

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紫外可见分光光度计755S

上海棱光紫外可见分光光度计755S技术参数

1.波长范围（nm）:200-960 ;波长准确度（nm）:±1 ;波长重复性 （nm）:≤0.5
2.带宽（nm）:2 ;透射比准确度:±0.5%τ;杂光:≤0.2%τ
3.显示:LCD多种信息;T/A转换方式:软件
4.接口:RS232串行口;PC软件包;专用数据处理软件包
5.量程:0.0-199.9%τ -0.3-2.999A 1-9999F 0-9999C

上海棱光紫外可见分光光度计755S主要特点

1.采用日本Hamamatsu L2D2系列高稳、高亮、不低于3000小时工作寿命氘灯及日本原装10000小时长寿钨灯；采用获得专利技术的组合光源技术使可靠性、稳定性大为提高；光源灯经校正更换方便；
2.128×64点阵3英寸LCD显示，中文菜单及状态提示，十进制键盘输入，主机可直接最小二乘法定标，建立线性回归方程等；带2K Byte 断电存储器，可保存8组测试参数及线性回归方程；
3.结构设计精巧，整体式铸造结构、全模具生产工艺、专利镜座结构，执行全过程ISO9000：2000质控；先进的交叉C-T单色器，超低的紫外杂光使用户实验范围扩至3.0A；优秀的紫外信噪比使仪器重现性极佳，在任何波长下可稳定测出数据；
4.设有RS232串行口，可选配专用数据处理软件包扩展定量分析等功能；并可选配外挂式串口打印机实现主机测试参数打印。

 
上海棱光紫外可见分光光度计755S仪器介绍  

755S紫外可见分光光度计是上海棱光技术有限公司最新推出的获上海市高新技术成果荣誉的S系列紫外可见自动扫描型分析仪中的新成员。仪器采用大屏幕蓝屏高亮度LCD显示，中文菜单及在线状态提示，可进行数据记录及编辑管理，2nm带宽、特低杂光，具有卓越可靠的性能指标，适合高精度定量分析。