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芯片检查显微镜LWM400JT
 
   
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上海测维芯片检查显微镜LWM400JT

大工作台200*200,可选头部/工作台升降

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芯片检查显微镜LWM400JT上海测维产品简介:
LWM400JT芯片检查显微镜适用于对不透明物体的进行显微观察。配置大移动范围的机械式载物台、落射照明器、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。

芯片检查显微镜LWM400JT上海测维产品特点:
1.  配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片),视场大而清晰。
2. 配置大移动范围的载物台,能快速和慢速移动。
3.粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm。
4. 6V 20W卤素灯,亮度可调。
5. 三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察,可进行100%透光摄影

芯片检查显微镜LWM400JT上海测维产品技术参数:
1、三目镜筒:倾斜30 °,瞳距55mm-75mm,视度±5°
2、目镜:WF10X/18mm
3、长距平场消色差物镜(无盖玻片)
PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40
PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8
4、总放大倍数:50X-800X
5、载物台:尺寸: 280mm×270mm,移动范围: 204mm×204mm
6、调焦:粗微动同轴 升降范围25mm ,微动格值0.002mm
7、光 源:柯勒照明 滤色片座 可调卤素灯6V20W
8、正交偏光装置

芯片检查显微镜LWM400JT上海测维产品选购件:
1、目镜:WF16X/11mm,WF20X/9mm,10X带尺可调目镜
2、长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 50X/0.70、 PL L 60X/0.75 (弹簧)、 PL L 100X/0.85 (弹簧),平场消色差物镜(无盖玻片): PL 100X/1.25  (弹簧,油)
3、摄像系统:数码摄像头130万或300万,数码相机
4、测量软件,金相分析软件等

 

 

 

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