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SGW® X-4B自动旋光仪
 
   
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上海物光SGW® X-4B自动旋光仪

范围:室温~320℃,最小读数单位:0.1℃, 重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃) 双目体式显微镜,光学放大倍数:40倍-100倍

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SGW® X-4B自动旋光仪上海物光产品介绍:

应用范围:测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

性能指标

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:±1℃(在<200℃时)

            ±2℃(在200~300℃时)

 

X-4

X-4A

X-4B

温度显示最小值

1℃

0.1℃

0.1℃

熔点观察方式

单目显微镜

单目显微镜

双目体视显微镜

光学放大倍数

40倍

40倍

连续变倍40倍-100倍

 

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