Excelitas技术取得新成果

     马萨诸塞州沃尔瑟姆--ExcelitasTechnologies公司今天公布，该公司在对固态硅光电倍增管(SiPM)技术进行开发和实用化过程中，取得了破纪录的世界级高光子探测效率(PDE)与低暗计数的机能成果。固态硅光电倍增管是Excelitas针对医疗与分析仪器市场的微光探测(L3D)技术与产品套件的一大重要组成部门。酸度计
　　
　　该测试成果已经在“CERNIndustry-Academia Matching Eventon SiPM and Related Technologies”(欧洲核电子中央固态硅光电倍增管及相关技术产学研对接流动)上发表并宣布。此项流动于2011年2月16日至17日在瑞士日内瓦举行，共有120名从事尖端光子探测工作或研究的工业界与学术界专家参加。1g电子天平
　　
　　2009年，该公司与Max Planck Society(德国马普学会)的技术转让机构Max Planck Innovation就其超高速、低串扰的固态硅光电倍增管技术签订独家协议。硅光电倍增管的光子探测效率高，响应时间短，功耗低，是荧光与分子成像等多种微光应用的理想之选。
　　
　　Excelitas全球探测业务部高级副总裁兼总经理MichaelErsoni表示：“Excelitas非常兴奋能够展示固态硅光电倍增管技术的突破性技术成果。我们非常兴奋能够发布这项目前最提高前辈的成果，对人们对在真实实验状况下测试与评估Excelitas硅光电倍增管技术所表现出的浓厚爱好感到非常欣慰。”
　　
　　Ersoni先生还增补：“Excelitas坚定不移地致力于实现其微光探测产品与技术的快速增长，以知足生命科学、临床诊断以及分析仪器领域最提高前辈应用的大量需求。”
　　
　　3月13日至18日，Pittcon2011(2011年美国分析化学和光谱应用会议暨博览会)将在亚特兰大乔治亚世界会议中央(GeorgiaWorldCongressCenter)举行。届时ExcelitasTechnologies将在5060号展位展示专为分析仪器与生命科学市场量身定制的光发射及微光探测解决方案。